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        德國 HELLMA 晶體材料 氟化鋇BaF?

        • 產(chǎn)品型號:
        • 更新時間:2025-11-18
        • 瀏覽次數(shù):376

        簡要描述:德國 HELLMA 晶體材料 氟化鋇BaF?

        產(chǎn)品介紹:

        在光學(xué)材料領(lǐng)域,氟化鋇(Barium Fluoride,BaF?)以其獨(dú)特的光學(xué)性能和化學(xué)穩(wěn)定性成為紫外、可見光及紅外系統(tǒng)的關(guān)鍵材料。Hellma Materials BaF? 產(chǎn)品憑借高純度、低吸收、寬光譜透射及高機(jī)械均勻性,廣泛應(yīng)用于激光系統(tǒng)、光學(xué)窗口、閃爍探測器以及科研儀器等領(lǐng)域。

        產(chǎn)品詳情
        品牌Hellma/德國豪瑪供貨周期一個月以上
        應(yīng)用領(lǐng)域綜合

        德國 HELLMA 晶體材料 氟化鋇BaF? 產(chǎn)品介紹

         

        產(chǎn)品介紹:

         

        在光學(xué)材料領(lǐng)域,氟化鋇(Barium FluorideBaF?)以其獨(dú)特的光學(xué)性能和化學(xué)穩(wěn)定性成為紫外、可見光及紅外系統(tǒng)的關(guān)鍵材料。Hellma Materials BaF? 產(chǎn)品憑借高純度、低吸收、寬光譜透射及高機(jī)械均勻性,廣泛應(yīng)用于激光系統(tǒng)、光學(xué)窗口、閃爍探測器以及科研儀器等領(lǐng)域。

         

        參數(shù)接受:

         

        150200 nm:深紫外仍有良好透射 (>70%)

        200400 nmUV 區(qū)透射率 >90%

        400700 nmVIS 區(qū)透射率 9294%

        110 μmIR 區(qū)透射平穩(wěn),高達(dá) 90%

        11 μm 以上:紅外吸收明顯增加

        最大直徑可達(dá) ? 100 mm(部分定制可達(dá) ?150 mm

        厚度:150 mm

        可加工成平板、棱鏡、透鏡坯件、柱體等

        表面質(zhì)量:20-10 60-40

        平整度:λ/10–λ/4

        密度:4.89 g/cm3

        熔點(diǎn):1368 °C

        熱膨脹系數(shù):18.5 ×10?? /K

        熱導(dǎo)率(25°C):2.0 W/mK

        楊氏模量:57 GPa

         

        應(yīng)用領(lǐng)域:

         

        1. 激光與光學(xué)窗口

         

        激光輸出窗口、透鏡及棱鏡

        高功率激光系統(tǒng)中的多波段窗口

        光學(xué)干涉和成像系統(tǒng)

         

        2. 深紫外光學(xué)系統(tǒng)

         

        DUV 光刻、光學(xué)顯微鏡

        紫外分光光度計(jì)

        光學(xué)傳感與檢測設(shè)備

         

        3. 中紅外與紅外探測

         

        紅外光學(xué)元件、熱成像鏡頭

        氣體傳感器窗口

        紅外光譜儀光學(xué)部件

         

        4. 閃爍材料應(yīng)用

         

        γ 射線探測器

        核醫(yī)學(xué)成像設(shè)備

        安全掃描與輻射監(jiān)測系統(tǒng)

         

        產(chǎn)品特點(diǎn):

         

        寬光譜透射:從 DUV IR,跨波段使用無損耗

        高純度材料:低雜質(zhì),確保激光系統(tǒng)穩(wěn)定性

        大尺寸晶體供應(yīng):適合工業(yè)和科研級光學(xué)系統(tǒng)

        內(nèi)部應(yīng)力控制嚴(yán)格:適合干涉與高精度光學(xué)應(yīng)用

        多領(lǐng)域適用性:激光、光刻、紅外成像、閃爍探測均適用

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